• Título:  NANOSCALE PHYSICAL PROPERTIES OF POLYMER THIN FILMS FOR ENERGY APPLICATIONS.
• Autor:  SANVITI, MATTEO
• Universidad:  Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea
• Departamento:  Polímeros y Materiales Avanzados: Física, Química y Tecnología
• Fecha de Lectura:  31/01/2023
• Mención Europeo / Mención Internacional: concedido
• Programa de doctorado:  Programa de Doctorado en Física de Nanoestructuras y Materiales Avanzados/Physics of Nanostructures and Advanced Materials por la Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea
• Dirección: 
  • ALEGRIA LOINAZ, ÁNGEL (DIRECTOR)
  • Martínez Tong, Daniel Enrique (DIRECTOR)
• Tribunal: 
  • Napolitano, Simone (PRESIDENTE)
  • CERVENY MURCIA, SILVINA (SECRETARIO)
  • MICCIO, LUIS ALEJANDRO (VOCAL)
• Descriptores: 
  • ALEACIONES
  • PROPIEDADES DE PORTADORES ELECTRONICOS
  • SUPERFICIES
• Localización:  REPOSITORIO INSTITUCIONAL E.H.U./U.P.V.
• http://hdl.handle.net/10810/59738
• Resumen:
  Los compuestos poliméricos constituyen una gran variedad de productos que pueden presentar nanoestructuras supramoleculares complejas, las cuales determinan sus comportamiento tanto en bulk cuanto bajo las condiciones de funcionamiento del dispositivo correspondiente. En esta tesis presentamos el estudio de algunos polímeros nanoestructurados con el fin de aclarar la relación entre una conformación supramolecular dada y las propiedades físicas resultantes. Por un lado, nos enfocamos en la caracterización de los procesos de polarización y desplazamiento iónico en un material semicristalino. Por otro lado, se estudiaron las propiedades mecánicas y eléctricas de un polímero intrínsecamente conductor, tanto en algunas nanoestructuras inducidas como en sus mezclas con el material semicristalino mismo. Este estudio se realizó sobre muestras en configuración de película delgada en vista de sus posibles implementaciones en dispositivos electrónicos multicapa para aplicaciones energéticas. La caracterización de las películas delgadas se llevó a cabo principalmente por Atomic Force Microscopy (AFM) y Broadband Dielectric Spectroscopy (BDS).